Analüüs (XRF) proovist 77720
Üldinfo
Metoodika XRF
Isik/asutus Kallaste, Toivo
Proovi nr
Viide Kiipli, T. et al., 2011a
Andmeset Ordoviitsiumi ja Siluri bentoniitide keemiline koostis (XRF)
Lokaliteet
Sügavus 687.8
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-14
Kirje muudetud 2012-10-14
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
LOI_920 [%]12.97
SiO2 [%]51.5
TiO2 [%]0.64
Al2O3 [%]14.5
Fe2O3 [%]4.31
MnO [%]0.039
MgO [%]4.09
CaO [%]8.86
Na2O [%]0.75
K2O [%]3.94
P2O5 [%]0.14
Cl [%]0.02
S [%]0.55
SUM [%]101.8
As [ppm]6.1
Ba [ppm]287
Bi [ppm]<10
Br [ppm]2.8
Ce [ppm]76
Cr [ppm]74
Cu [ppm]<100
Ga [ppm]17.8
La [ppm]60
Mo [ppm]3
Nb [ppm]15.3