Analüüs (XRF) proovist OM18-30
MetoodikaXRF
Isik/asutusPajusaar, Siim
Proovi nr
Lokaliteet
Sügavus2.75
Süg. kuni2.8
Stratigraafia
Litostratigraafia
AsutusTalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud2021-11-26
Siin leiduvad materjalid on enamasti kasutamiseks CC BY-SA litsentsi alusel, kui pole näidatud teisiti. Portaal on osaks NATARC teadustaristust ning infosüsteemist SARV, majutab TalTech pilv. Tarkvara on loodud kasutades Nuxt.js raamistikku ning kättesaadav GitHub keskkonnas.