Analüüs (XRF) proovist 100741
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]66.7
TiO2 [%]0.195
Al2O3 [%]4.93
Fe2O3 [%]1.77
MnO [%]0.035
MgO [%]0.61
CaO [%]5.25
Na2O [%]0.72
K2O [%]1.55
P2O5 [%]0.342
SO3 [%]0.28
Cl [%]0.005
F [%]0.034
LOI_1030 [%]17.02
As [ppm]3
Ba [ppm]334
Ce [ppm]51
Co [ppm]0.5
Cr [ppm]28
Cs [ppm]0.5
Cu [ppm]52
Ga [ppm]6
Hf [ppm]5
La [ppm]35
Mo [ppm]0.5