Analüüs (XRF) proovist 100740
Üldinfo
Metoodika | XRF |
Proovi nr |
100740
|
Andmeset | Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine |
Sügavus | 0.2 |
Stratigraafia |
Kvaternaar
|
Asutus | TalTech geoloogia instituut |
Kirje lisatud | 2012-10-12 |
Kirje muudetud | 2012-10-12 |
Tulemused
Parameeter | Väärtus | Tekst | Viga |
---|---|---|---|
SiO2 [%] | 80.12 | ||
TiO2 [%] | 0.135 | ||
Al2O3 [%] | 2.84 | ||
Fe2O3 [%] | 1 | ||
MnO [%] | 0.022 | ||
MgO [%] | 0.21 | ||
CaO [%] | 2.38 | ||
Na2O [%] | 0.41 | ||
K2O [%] | 0.96 | ||
P2O5 [%] | 0.644 | ||
SO3 [%] | 0.17 | ||
Cl [%] | 0.005 | ||
F [%] | 0.003 | ||
LOI_1030 [%] | 10.73 | ||
As [ppm] | 5 | ||
Ba [ppm] | 189 | ||
Ce [ppm] | 43 | ||
Co [ppm] | 0.5 | ||
Cr [ppm] | 13 | ||
Cs [ppm] | 0.5 | ||
Cu [ppm] | 23 | ||
Ga [ppm] | 4 | ||
Hf [ppm] | 7 | ||
La [ppm] | 37 | ||
Mo [ppm] | 1 |
Sirvi e-Maapõues