Analüüs (XRF) proovist 100740
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]80.12
TiO2 [%]0.135
Al2O3 [%]2.84
Fe2O3 [%]1
MnO [%]0.022
MgO [%]0.21
CaO [%]2.38
Na2O [%]0.41
K2O [%]0.96
P2O5 [%]0.644
SO3 [%]0.17
Cl [%]0.005
F [%]0.003
LOI_1030 [%]10.73
As [ppm]5
Ba [ppm]189
Ce [ppm]43
Co [ppm]0.5
Cr [ppm]13
Cs [ppm]0.5
Cu [ppm]23
Ga [ppm]4
Hf [ppm]7
La [ppm]37
Mo [ppm]1