Analüüs (XRF) proovist 100739
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]53.73
TiO2 [%]0.617
Al2O3 [%]11.68
Fe2O3 [%]5.21
MnO [%]0.179
MgO [%]1.29
CaO [%]1.67
Na2O [%]0.33
K2O [%]3.99
P2O5 [%]0.401
SO3 [%]0.11
Cl [%]0.002
F [%]0.003
LOI_1030 [%]20.44
As [ppm]8
Ba [ppm]405
Ce [ppm]68
Co [ppm]2
Cr [ppm]81
Cs [ppm]3
Cu [ppm]18
Ga [ppm]14
Hf [ppm]4
La [ppm]44
Mo [ppm]2