Analüüs (XRF) proovist 100738
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]65.34
TiO2 [%]0.379
Al2O3 [%]7.43
Fe2O3 [%]3.26
MnO [%]0.049
MgO [%]0.49
CaO [%]2.63
Na2O [%]0.41
K2O [%]3.31
P2O5 [%]1.23
SO3 [%]0.13
Cl [%]0.005
F [%]0.141
LOI_1030 [%]14.81
As [ppm]18
Ba [ppm]294
Ce [ppm]50
Co [ppm]7
Cr [ppm]37
Cs [ppm]4
Cu [ppm]33
Ga [ppm]9
Hf [ppm]3
La [ppm]81
Mo [ppm]5