Analüüs (XRF) proovist 100737
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]78.35
TiO2 [%]0.129
Al2O3 [%]3.42
Fe2O3 [%]0.74
MnO [%]0.021
MgO [%]0.17
CaO [%]1.86
Na2O [%]0.43
K2O [%]1.44
P2O5 [%]0.473
SO3 [%]0.15
Cl [%]0.005
F [%]0.003
LOI_1030 [%]12.48
As [ppm]0.5
Ba [ppm]265
Ce [ppm]20
Co [ppm]0.5
Cr [ppm]21
Cs [ppm]0.5
Cu [ppm]29
Ga [ppm]0.5
Hf [ppm]2
La [ppm]38
Mo [ppm]3