Analüüs (XRF) proovist 100735
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]69.09
TiO2 [%]0.247
Al2O3 [%]5.24
Fe2O3 [%]2.42
MnO [%]0.042
MgO [%]0.54
CaO [%]4.12
Na2O [%]0.54
K2O [%]1.65
P2O5 [%]0.471
SO3 [%]0.18
Cl [%]0.004
F [%]0.003
LOI_1030 [%]15.01
As [ppm]9
Ba [ppm]264
Ce [ppm]45
Co [ppm]0.5
Cr [ppm]36
Cs [ppm]0.5
Cu [ppm]36
Ga [ppm]5
Hf [ppm]3
La [ppm]54
Mo [ppm]3