Analüüs (XRF) proovist 100734
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]82.3
TiO2 [%]0.152
Al2O3 [%]4.42
Fe2O3 [%]1.41
MnO [%]0.043
MgO [%]0.32
CaO [%]2.01
Na2O [%]0.7
K2O [%]1.37
P2O5 [%]0.505
SO3 [%]0.06
Cl [%]0.005
F [%]0.057
LOI_1030 [%]6.34
As [ppm]4
Ba [ppm]244
Ce [ppm]2
Co [ppm]0.5
Cr [ppm]22
Cs [ppm]5
Cu [ppm]17
Ga [ppm]4
Hf [ppm]2
La [ppm]34
Mo [ppm]1