Analüüs (XRF) proovist 100733
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]79.86
TiO2 [%]0.156
Al2O3 [%]4.27
Fe2O3 [%]1.22
MnO [%]0.029
MgO [%]0.28
CaO [%]2.05
Na2O [%]0.63
K2O [%]1.31
P2O5 [%]0.394
SO3 [%]0.1
Cl [%]0.002
F [%]0.045
LOI_1030 [%]9.29
As [ppm]6
Ba [ppm]265
Ce [ppm]11
Co [ppm]0.5
Cr [ppm]17
Cs [ppm]1
Cu [ppm]24
Ga [ppm]4
Hf [ppm]3
La [ppm]32
Mo [ppm]0.5