Analüüs (XRF) proovist 100732
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]77.6
TiO2 [%]0.185
Al2O3 [%]3.21
Fe2O3 [%]1.55
MnO [%]0.06
MgO [%]0.14
CaO [%]1.52
Na2O [%]0.28
K2O [%]1.3
P2O5 [%]0.33
SO3 [%]0.16
Cl [%]0.005
F [%]0.003
LOI_1030 [%]13.33
As [ppm]4
Ba [ppm]203
Ce [ppm]22
Co [ppm]3
Cr [ppm]21
Cs [ppm]2
Cu [ppm]9
Ga [ppm]2
Hf [ppm]0.5
La [ppm]35
Mo [ppm]3