Analüüs (XRF) proovist 100730
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]53.1
TiO2 [%]0.237
Al2O3 [%]5.31
Fe2O3 [%]4.07
MnO [%]0.236
MgO [%]1.15
CaO [%]10.21
Na2O [%]0.53
K2O [%]1.83
P2O5 [%]1.114
SO3 [%]0.2
Cl [%]0.004
F [%]0.076
LOI_1030 [%]21.33
As [ppm]10
Ba [ppm]257
Ce [ppm]62
Co [ppm]0.5
Cr [ppm]29
Cs [ppm]3
Cu [ppm]21
Ga [ppm]6
Hf [ppm]2
La [ppm]59
Mo [ppm]0.5