Analüüs (XRF) proovist 100728
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]64.81
TiO2 [%]0.23
Al2O3 [%]6.21
Fe2O3 [%]2.98
MnO [%]0.119
MgO [%]0.55
CaO [%]4.03
Na2O [%]0.77
K2O [%]1.7
P2O5 [%]0.511
SO3 [%]0.23
Cl [%]0.005
F [%]0.003
LOI_1030 [%]17.29
As [ppm]8
Ba [ppm]380
Ce [ppm]43
Co [ppm]0.5
Cr [ppm]55
Cs [ppm]0.5
Cu [ppm]42
Ga [ppm]9
Hf [ppm]7
La [ppm]53
Mo [ppm]0.5