Analüüs (XRF) proovist 100726
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]53.35
TiO2 [%]0.258
Al2O3 [%]5.96
Fe2O3 [%]3.12
MnO [%]0.141
MgO [%]1.69
CaO [%]14.19
Na2O [%]0.79
K2O [%]1.78
P2O5 [%]0.538
SO3 [%]0.14
Cl [%]0.013
F [%]0.003
LOI_1030 [%]17.38
As [ppm]6
Ba [ppm]248
Ce [ppm]61
Co [ppm]0.5
Cr [ppm]28
Cs [ppm]5
Cu [ppm]21
Ga [ppm]6
Hf [ppm]0.5
La [ppm]24
Mo [ppm]0.5