Analüüs (XRF) proovist 100725
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]50.78
TiO2 [%]0.371
Al2O3 [%]7.63
Fe2O3 [%]5.94
MnO [%]0.336
MgO [%]1.17
CaO [%]8.29
Na2O [%]0.71
K2O [%]2.2
P2O5 [%]0.986
SO3 [%]0.19
Cl [%]0.005
F [%]0.065
LOI_1030 [%]20.69
As [ppm]10
Ba [ppm]280
Ce [ppm]63
Co [ppm]4
Cr [ppm]33
Cs [ppm]5
Cu [ppm]16
Ga [ppm]11
Hf [ppm]5
La [ppm]58
Mo [ppm]3