Analüüs (XRF) proovist 100722
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]63
TiO2 [%]0.4
Al2O3 [%]8.54
Fe2O3 [%]5.19
MnO [%]0.19
MgO [%]0.93
CaO [%]3.37
Na2O [%]0.96
K2O [%]2.29
P2O5 [%]0.8
SO3 [%]0.16
Cl [%]0.002
F [%]0.003
LOI_1030 [%]13.7
As [ppm]29
Ba [ppm]323
Ce [ppm]44
Co [ppm]11
Cr [ppm]41
Cs [ppm]3
Cu [ppm]17
Ga [ppm]10
Hf [ppm]3
La [ppm]55
Mo [ppm]5