Analüüs (XRF) proovist 100720
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]46.56
TiO2 [%]0.287
Al2O3 [%]4.96
Fe2O3 [%]4.53
MnO [%]0.251
MgO [%]2.35
CaO [%]12.07
Na2O [%]0.33
K2O [%]1.79
P2O5 [%]1.034
SO3 [%]0.18
Cl [%]0.004
F [%]0.083
LOI_1030 [%]24.98
As [ppm]10
Ba [ppm]217
Ce [ppm]57
Co [ppm]0.5
Cr [ppm]26
Cs [ppm]4
Cu [ppm]12
Ga [ppm]6
Hf [ppm]1
La [ppm]49
Mo [ppm]2