Analüüs (XRF) proovist 100719
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]68.39
TiO2 [%]0.165
Al2O3 [%]4.81
Fe2O3 [%]2.41
MnO [%]0.042
MgO [%]0.33
CaO [%]2.2
Na2O [%]0.49
K2O [%]1.34
P2O5 [%]0.236
SO3 [%]0.29
Cl [%]0.005
F [%]0.016
LOI_1030 [%]18.7
As [ppm]6
Ba [ppm]348
Ce [ppm]26
Co [ppm]1
Cr [ppm]34
Cs [ppm]1
Cu [ppm]111
Ga [ppm]6
Hf [ppm]4
La [ppm]45
Mo [ppm]2