Analüüs (XRF) proovist 100717
Üldinfo
Metoodika XRF
Proovi nr
Andmeset Tallinna ja lähiümbruse muldade geokeemiline kaardistamine
Sügavus 0.2
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-12
Kirje muudetud 2012-10-12
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]74.59
TiO2 [%]0.276
Al2O3 [%]5.5
Fe2O3 [%]2.61
MnO [%]0.061
MgO [%]0.45
CaO [%]3.57
Na2O [%]0.59
K2O [%]2.24
P2O5 [%]2.03
SO3 [%]0.14
Cl [%]0.007
F [%]0.106
LOI_1030 [%]7.36
As [ppm]11
Ba [ppm]250
Ce [ppm]84
Co [ppm]0.5
Cr [ppm]16
Cs [ppm]2
Cu [ppm]12
Ga [ppm]6
Hf [ppm]4
La [ppm]58
Mo [ppm]2