Analüüs (XRF) proovist 77681
Üldinfo
Metoodika XRF
Isik/asutus Kallaste, Toivo
Proovi nr
Viide Kiipli, T. et al., 2011a
Andmeset Ordoviitsiumi ja Siluri bentoniitide keemiline koostis (XRF)
Lokaliteet
Sügavus 836.4
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-14
Kirje muudetud 2012-10-14
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
LOI_920 [%]9.86
SiO2 [%]48.18
TiO2 [%]0.61
Al2O3 [%]31.85
Fe2O3 [%]1.9
MnO [%]0.004
MgO [%]1.34
CaO [%]0.4
Na2O [%]1.99
K2O [%]2.4
P2O5 [%]0.096
Cl [%]1.05
S [%]0.04
SUM [%]99.7
As [ppm]5.4
Ba [ppm]189
Bi [ppm]<8
Br [ppm]23.4
Ce [ppm]242
Cr [ppm]-0.9
Cu [ppm]<100
Ga [ppm]17.3
La [ppm]108
Mo [ppm]-8
Nb [ppm]49.6