Analüüs (XRF) proovist 77666
Üldinfo
Metoodika XRF
Isik/asutus Kallaste, Toivo
Proovi nr
Viide Kiipli, T. et al., 2011a
Andmeset Ordoviitsiumi ja Siluri bentoniitide keemiline koostis (XRF)
Lokaliteet
Sügavus 840.65
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-14
Kirje muudetud 2012-10-14
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
SiO2 [%]51.22
TiO2 [%]0.675
Al2O3 [%]19.79
Fe2O3 [%]7.47
MnO [%]0.023
MgO [%]3.3
CaO [%]1.06
Na2O [%]4.11
K2O [%]5.3
P2O5 [%]0.068
Cl [%]3.018
S [%]0.071
SUM [%]96.1
As [ppm]0.8
Ba [ppm]193
Br [ppm]53.1
Ce [ppm]97
Co [ppm]17.4
Cr [ppm]90.8
Cu [ppm]118.9
F [%]0.14
Ga [ppm]24.2
Ge [ppm]1.2
La [ppm]11.8
Mo [ppm]2