Analüüs (XRF) proovist 77710
Üldinfo
Metoodika XRF
Isik/asutus Kallaste, Toivo
Proovi nr
Viide Kiipli, T. et al., 2011a
Andmeset Ordoviitsiumi ja Siluri bentoniitide keemiline koostis (XRF)
Lokaliteet
Sügavus 677.75
Stratigraafia
Asutus TalTech geoloogia instituut
Kirje lisatud 2012-10-14
Kirje muudetud 2012-10-14
Tulemused
ParameeterVäärtusTekstViga
LOI_920 [%]10.17
SiO2 [%]54
TiO2 [%]0.73
Al2O3 [%]14.9
Fe2O3 [%]4.91
MnO [%]0.043
MgO [%]3.95
CaO [%]7.24
Na2O [%]0.85
K2O [%]4.25
P2O5 [%]0.09
Cl [%]0.08
S [%]0.68
SUM [%]101.3
As [ppm]9
Ba [ppm]322
Bi [ppm]<10
Br [ppm]4.2
Ce [ppm]52
Cr [ppm]81.9
Cu [ppm]<100
Ga [ppm]19.3
La [ppm]51
Mo [ppm]4.9
Nb [ppm]16.4